Mpac > データ横断検索 > 検索結果
1.入力したキーワードでの検索結果を、40件ずつ表示しています。
2.矢印の画像は、前年比(前年同期比、前年同週比、前年同月比)の大小を表しています。
95%未満
95~105%未満
105%以上
並び順│キーワード一致│調査時期│金額・数量│前年比
2件が該当しました。1~2件を表示しています。
No. | 市場調査データ | 調査年 | 市場規模 /前年比 |
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1 |
FA機器・システム > 半導体検査装置 チップ外観検査装置は、ダイシング後の半導体素子の検査を行う装置であり、回路パターン形成後に可否判定・分類を行う事で、歩留まり向上につながる。本項では、パワー... |
2024 |
××億円 ××%![]() |
2 |
FA機器・システム > 半導体検査装置 本項では、電気テスタ装置の内、動特性、静特性を検査用途とし、パワーデバイス向けに出荷された装置を対象とする。尚、電気サイクルを始めとする評価、分析を検査用途... |
2024 |
××億円 ××%![]() |
2件が該当しました。1~2件を表示しています。
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