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Mpac > データ横断検索 > 検索結果
１．入力したキーワードでの検索結果を、40件ずつ表示しています。
２．矢印の画像は、前年比（前年同期比、前年同週比、前年同月比）の大小を表しています。
95％未満
95～105％未満
105％以上
並び順│キーワード一致│調査時期│金額・数量│前年比
3件が該当しました。1～3件を表示しています。
| No. | 市場調査データ | 調査年 | 市場規模 ／前年比 |
|---|---|---|---|
| 1 |
ＦＡ機器・システム > 半導体検査装置 当該装置は、ウェーハ上の回路パターンとの画像比較ができるパターン付きウェーハ検査と、回転するウェーハにレーザーを照射し、散乱光から欠陥を検出するパターン無し... |
2023 |
××億円 ××％
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| 2 |
ＦＡ機器・システム > 半導体検査装置 チップ外観検査装置は、ダイシング後の半導体素子の検査を行う装置であり、回路パターン形成後に可否判定・分類を行う事で、歩留まり向上につながる。本項では、パワー... |
2024 |
××億円 ××％
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| 3 |
ＦＡ機器・システム > 半導体検査装置 本項では、電気テスタ装置の内、動特性、静特性を検査用途とし、パワーデバイス向けに出荷された装置を対象とする。尚、電気サイクルを始めとする評価、分析を検査用途... |
2024 |
××億円 ××％
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3件が該当しました。1～3件を表示しています。
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